偏反光顯微鏡-高精度偏反光顯微鏡-上海天省儀器廠

2010

06-29

11:26:39

 695

來源：上海天省儀器有限公司

偏反光顯微鏡高精度偏反光顯微鏡上海天省

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用途：
　　　偏反光顯微鏡XPV-400E型是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校zui常用的專業(yè)實驗儀器。高精度偏反光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影。偏反光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等領(lǐng)域。高精度偏反光顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高。適用于地質(zhì),礦業(yè)勘查等,高精度偏反光顯微鏡是地質(zhì)勘查資質(zhì)進行分類分級中*儀器.比如:區(qū)域地質(zhì)勘查、海洋地質(zhì)勘查、水文地質(zhì)勘查、工程地質(zhì)勘查、環(huán)境地質(zhì)勘查、固體礦產(chǎn)勘查、地球化學(xué)勘查等,是地質(zhì)類研究*的實驗室儀器.

偏反光顯微鏡 XPV-400E 偏反光顯微鏡 XPV-400Z 偏反光顯微鏡 XPV-400E

系統(tǒng)簡介　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　透偏反光顯微鏡系統(tǒng)是將精密的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、的計算機圖像處理技術(shù)地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

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